●DF-660采用適應CCD采集的C-T光學系統(tǒng)，平場采樣，全譜接收;
●創(chuàng)新的DF-VI型全譜接收裝置，實現(xiàn)130-800nm譜線分析;
●可分析鐵、銅、鋁、鋅、鎳、錫、鈦、鎂等多種基體;
●獨立的光譜采集、處理模塊，高性能的ARM處理器，實時操作系統(tǒng),獨立優(yōu)化的數(shù)據(jù)處理單元，可極大縮短分析時間,提高儀器的分析精度;
●最新的第三代溫度控制系統(tǒng)，大大降低了能耗，溫度控制范圍在士0.2°C，提高了儀器的穩(wěn)定性;
●數(shù)字化光源DFII-S的采用，擴大了元素的分析范圍和精度;
●定制化平場光柵，減少CCD使用數(shù)量,提高了分析數(shù)據(jù)精度及穩(wěn)定性,儀器體積大大縮小，便于移動及安裝;
●軟件功能齊全、數(shù)據(jù)顯示靈活，可設置碳當量等各種偽元素顯示，并具有多種可選的報告打印格式。