? ?CCD與PMT結合是目前解決全譜檢測并滿足微量和痕量分析的最優選擇，但同時滿足兩種類型檢測器的采樣控制和系統的完美結合目前仍然是該類儀器的制造難點?！薄w珍陽

? ? 眾所周知，檢測器作為光譜儀的核心部件，其技術的發展進步往往引領著光譜儀的發展。目前不少廠商都將制度光譜儀的研究方向放在CCD技術的應用上， 雖然目前CCD還有一些不足之處，但是大家認為CCD在光電直讀光譜儀中的應用是值得期待的。

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? ? 誠然，采用CCD技術將會降低光電直讀光譜儀的生產成本及減小儀器體積。而且CCD最大的優點是全譜檢測，方便增加檢測元素的種類。但是和傳統的光電倍增管技術相比，CCD沒法像PMT那樣每個通道都做優化。CCD目前還無法應用一些高速采樣技術，因而在痕量元素分析方面性能不及PMT。CCD的信噪比不如PMT，其次如何保證多塊CCD的一致性，以及處理多塊CCD之間的接收空白區，也是一個問題。此外，當前CCD技術已經可以滿足中端分析應用水平，但在短波元素分析、低含量元素分析、短期分析精度和長期精度方面和PMT還是有差距。

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? ? 因此東儀光電董事長趙珍陽就提出了CCD與PMT相結合使用的觀點，并進行實際的研究開發，經過不斷努力，現在已經成功推出，采用CCD技術的直讀光譜儀DF500，DF500光譜儀是采用全新技術打造的新一代全譜直讀光譜儀，可定制分析140nm以上元素；包括N元素。DF500光譜儀采用全新光學系統設計不限于雙光學系統，自動控制參數可調的DFⅢ型等離子體光源。而且其所有元素采用CCD接收信號。加上全新的操作界面和可優化選擇的定制工作曲線。